GHUZ050E43A03

磁導(dǎo)率的測(cè)量是間接測(cè)量，測(cè)出磁心上繞組線圈的電感量，再用公式計(jì)算出磁芯材料的磁導(dǎo)率。所以，磁導(dǎo)率的測(cè)試儀器就是電感測(cè)試儀。在此強(qiáng)調(diào)指出，有些簡(jiǎn)易的電感測(cè)試儀器，測(cè)試頻率不能調(diào)，而且測(cè)試電壓也不能調(diào)。例如某些電橋，測(cè)試頻率為100Hz或1kHz，測(cè)試電壓為0.3V，給出的這個(gè)0.3V并不是電感線圈兩端的電壓，而是信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生的電壓。至于被測(cè)線圈兩端的電壓是個(gè)未知數(shù)。如果用高檔的儀器測(cè)量電感，例如 Agilent 4284A 精密LCR測(cè)試儀，不但測(cè)試頻率可調(diào)，而且被測(cè)電感線圈兩端的電壓及磁化電流都是可調(diào)的。了解測(cè)試儀器的這些功能，對(duì)磁導(dǎo)率的正確測(cè)量是大有幫助的。

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對(duì)于內(nèi)徑較小的環(huán)型磁心，內(nèi)徑不如壁厚容易測(cè)量，所以用(4)式比較方便。(4)式與(3)式是等效的，它們的由來是把環(huán)的平均磁路長(zhǎng)度當(dāng)成了磁心的磁路長(zhǎng)度。用它們計(jì)算出來的磁導(dǎo)率稱為材料的環(huán)磁導(dǎo)率。有人說用環(huán)型樣品測(cè)量出來的磁導(dǎo)率就叫環(huán)磁導(dǎo)率，這種說法是不正確的。實(shí)際上，環(huán)磁導(dǎo)率比材料的真實(shí)磁導(dǎo)率要偏高一些，且樣環(huán)的壁越厚，誤差越大。

對(duì)于樣環(huán)來說，在相同安匝數(shù)磁動(dòng)勢(shì)激勵(lì)下，磁化場(chǎng)在徑向方向上是不均勻的。越靠近環(huán)壁的外側(cè)面，磁場(chǎng)就越弱。在樣環(huán)各處磁導(dǎo)率μ不變的條件下，越靠近環(huán)壁的外側(cè)，環(huán)的磁通密度B就越低。為了消除這種不均勻磁化對(duì)測(cè)量的影響，我們把樣環(huán)看成是由無窮多個(gè)半徑為r，壁厚無限薄為dr的薄壁環(huán)組成。根據(jù)(1)式，可寫出每個(gè)薄壁環(huán)產(chǎn)生的電感dL為:

2.2.1測(cè)試電壓U較低的情況

如前所述，對(duì)于高檔儀器，如Agilent 4284A精密LCR 測(cè)試儀，它的測(cè)試電壓可以調(diào)得極低，以至于測(cè)試磁場(chǎng)強(qiáng)度隨匝數(shù)的變化達(dá)到時(shí)，仍然沒有超出磁導(dǎo)率的起始區(qū)。這時(shí)測(cè)得的總是材料的起始磁導(dǎo)率μi，它與測(cè)試線圈匝數(shù)N無關(guān)。用同一臺(tái)儀器，如果把測(cè)試電壓調(diào)得比較高，不能再保證不同匝數(shù)測(cè)得的磁導(dǎo)率都是起始磁導(dǎo)率，這時(shí)所測(cè)得的磁導(dǎo)率又會(huì)與測(cè)試線圈匝數(shù)有關(guān)了。